Физическое моделирование и геометрический анализ лауэграмм Челябинский государственный университет Научный руководитель: Шереметьев Игорь Алексеевич, к.ф.-м.н. В последние годы метод Макса фон Лауэ, открывший эру рентгеноструктурного анализа, все чаще выступает как полноценный метод получения структурных данных от монокристалла и, прежде всего, в дифракционных экспериментах на пучках синхротронного излучения (СИ) [1]. Использование СИ, позволяет за очень короткое время собрать и обработать максимальный объем информации об изучаемом объекте и открывает новые перспективы в изучении монокристаллов, а также структурной динамики кристаллических веществ. В исследованиях знакомых (с известной структурой) кристаллов основной трудностью анализа и кристаллографической интерпретации насыщенных рефлексами СИ-снимков является хорошо известная проблема индицирования полихроматических дифрактограмм-лауэграмм, а также связанная с ней проблема определения ориентации решетки кристалла-объекта в эксперименте. Развитие новых математических подходов к решению задач лауэориентации кристаллов и извлечения структурной информации на СИ-пучках весьма актуально. Данная работа посвящена совершенствованию метода "DISCO" (Diffraction Index-Scanning of Crystal Orientations) геометрического анализа лауэграмм, основанного на идее тотального сканирования всех теоретически возможных ориентаций кристалла и выборе по новому кристаллогеометрическому критерию [2] модельного дифракционного комплекса, отвечающего наблюдаемой конфигурации рефлексов кристалла-объекта. В работе развиваются методы физического моделирования лауэ-эксперимента и их приложения к задачам рентгеноструктурного анализа. Нами разработана ЭВМ-система "DISCO-2" ( OS Windows-95, 500 kB), предназначенная для лауэориентации кристаллов любой известной структуры и индицирования лауэпятен в теоретическом диапазоне индексов Миллера, включающая опцию переориентации кристалла-объекта на стандартной гониометрической головке в любом заданном направлении его решетки. Входные данные: параметры опыта, метрика решетки кристалла и x,y-координаты N рефлексов на двумерном детекторе/пленке. Учет погрешности измерений осуществляется конусом захвата (в обратной решетке), в котором ведется поиск лишь кратчайшего примитивного вектора дифракции - индекс-решения отдельного рефлекса.Быстродействие метода повышено применением нового алгоритма для расчета модельных ориентаций кристалла. В соответствии с данным алгоритмом базисный вектор решетки [100] последовательно выводится во все полюса специальной сферической эквидистантной сетки -"эквисетки" - высокой симметрии с последующей имитацией полного поворота вокруг данного направления. Малоугловой шаг полного поворота определяется при этом единственным параметром "эквисетки" - целым числом, регулирующим плотность ее полюсов. Для оптимизации расчетной схемы метода "DISCO" в настоящем исследовании разработан также способ одновременного индицирования анализируемых рефлексов снимка ("зримого" дифракционного комплекса) в ориентациях кристалла, соответствующих нескольким соседним полюсам "эквисетки". Это достигается путем предварительного формирования семейств конусов захвата, оси которых образуют фиксированный участок сетки. Индицирование отражения производится путем рассечения всего семейства одним и тем же набором параллельных узловых плоскостей и анализа примитивных узлов в подобных друг другу эллиптических сечениях конуса, охватывающего все семейство. Такая схема позволяет избежать многократного повторения операций одинаковых расчетов, неизбежных при прямом переходе от одной ориентации кристалла к другой. В соответствии с правилом "краткого дифракционного комплекса" [2], каждой текущей ориентации кристалла в процессе счета присваивается определенный "вес" и итоговое решение лауэграммы определяется по минимуму данного параметра. Дополнительно, в систему включена функция уточнения параметров эксперимента, позволяющая находить оптимальные значения последних для заданного набора лауэпятен. Задача сводится к поиску экстремума функции расходимости экспериментального и модельного лауэузоров, в качестве которой принята сумма косинусов углов между соответствующими векторами дифракции. Для улучшенного контроля найденного решения предусмотренно физическое моделирование лауэграммы в произвольной ориентации кристалла. Расчет интенсивностей рефлексов проводится в кинематическом приближении, учитываются особенности "белого" спектра используемого источника рентгеновского излучения, а также кривой поглощения детектора сигнала. Сравнение модельного и экспериментального лауэузоров позволяет сделать выводы о степени соответствия структуры образца структуре идеально-мозаичного монокристалла и оказывается полезным уже на начальном этапе исследования. Эксперименты по тестированию метода индицирования проводились на СИ-накопителе ВЭПП-3 (ИЯФ СО РАН). С помощью двухкоординатного детектора рентгеновских лучей " Imaging Plate" были получены лауэграммы несовершенных кристаллов алмаза, с явно выраженным астеризмом и сложной внутренней структурой пятен[3]. С помощью разработанного метода "DISCO-2" удалось проиндицировать наиболее сложные снимки, на которых невозможно точно определить координаты лауэпятен. Таким образом, совместное использование "белого" СИ, автоматических детекторов сигнала и компьютерных методов обработки дифракционной открывает широкие перспективы применения метода Лауэ в задачах рентгеноструктурного анализа.Съемка лауэграмм низкосимметричных кристаллов производилась с помощью стандартной рентгенографической камеры типа РКСО в лабораторных условиях. В докладе предполагаются ЭВМ-демонстрации и обсуждение результатов расшифровок лауэграмм кристаллов различной структуры и симметрии. |
(c) АСФ России, 2001 |