Определение структурных параметров твердотельной сверхрешетки In0.03GaN/In0.1GaN/Al2O3 по данным высокоразрешающей рентгеновской дифрактометрии Сыктывкарский государственный университет Научный руководитель: Пунегов Василий Ильич, д. ф.-м. н. Статистическая кинематическая теория дифракции [1] и данные высокоразрешающей рентгеновской дифрактометрии использовались для определения структурных параметров твердотельной сверхрешетки Al 2O3/ (In0.03GaN(20A) / In0.1GaN(40A))x5SL /AlGaN(20nm). Для решения обратной задачи принята следующая модель: сверхрешетка рассматривалась как N-слойная структура, где число N варьировалось от 15 до 45. Каждый элементарный слой сверхрешетки характеризовался структурными параметрами : относительной деформацией кристаллической решетки , фактором Дебая-Валлера и размерами дефектов . Отдельным параметром модели является толщина сверхрешетки.Для решения обратной дифракционной задачи мы использовали минимизацию функционала невязки: , где I 1, I2 - экспериментальные и теоретические данные, полученные по двух и трехкристальной дифракционной схеме.Был выбран численный "метод скользящего допуска", позволяющей вводить условия на исследуемые параметры[2]. Процесс минимизации реализован с помощью программы, написанной на языке С++. В работе получены следующие результаты:
Список публикаций: [1] Nesterets Ya. I. and Punegov V. I., Acta Cryst. A., A56, 540-548 (2000) [2]Химмельблау Д. "Прикладное нелинейное программирование", М.(1975) |
(c) АСФ России, 2001 |