Точность определения параметров в различных приближениях теории интенсивностей

Деткова Вера Михайловна
Витебский государственный университет

Научный руководитель: Корниенко Алексей Александрович, доктор физ.-мат. наук

Точность определения параметров в различных приближениях теории интенсивностей исследуется на примере стекол, активированных ионами празеодима. Интерес к синтезу и исследованию спектральных свойств стекол различного состава, активированных ионами празеодима, объясняется тем, что при низкой трудоемкости изготовления лазерных стекол, они имеют оптические качества и механическую прочность близкую к кристаллам. Стекла, активированные трехвалентным празеодимом, обладают очень богатым спектром излучения, простирающимся от ультрафиолетовой области до инфракрасной. Такие стекла одни из наиболее перспективных кандидатов для создания лазеров, работающих на длине волны 1.3 мкм и необходимых для оптоволоконных линий связи.

О выполнении достаточных условий генерации судят не только по структуре энергетических уровней, но и по времени жизни уровней и по коэффициентам ветвления люминесценции с них. Силы линий межмультиплетных электрических дипольных переходов оценивают в одном из приближений конфигурационного взаимодействия: слабого

, (1)

промежуточного

 (2)

или сильного

 (3)

Здесь - параметры интенсивности, - приведенные матричные элементы единичного тензора , вычисленные на волновых функциях в приближении свободного иона, - энергия возбужденной конфигурации, - энергия центра тяжести конфигурации и - энергии мультиплетов, включенных в переход.

Зная силы линий, можно легко вычислить силы осцилляторов переходов

, (4)

где - показатель преломления среды, - энергия перехода в см-1. Силы осцилляторов - безразмерные и измеряются в 10-6.

После этого нетрудно вычислить другие важные характеристики: время жизни возбужденного уровня

 (4)

и коэффициенты ветвления люминесценции с этого уровня

, (5)

где - вероятность спонтанного излучения с уровня , определяемая формулой

. (6)

Определение адекватного приближения для описания спектральных свойств лазерных стекол непростая проблема. В данной работе предлагается в качестве дополнительного критерия адекватности использовать информацию о погрешности параметров интенсивности.

Погрешности параметров определены для стекол различного состава. Было установлено, что в приближении слабого конфигурационного взаимодействия погрешности параметров интенсивности получаются самыми большими и значение параметра отрицательным. Согласно микроскопическим моделям должны быть только положительными. Таким образом, из всех приближений приближение слабого конфигурационного взаимодействия (1) для стекол с примесью празеодима наименее адекватно. Что касается приближения промежуточного и сильного конфигурационного взаимодействия, то погрешности параметров в этих приближениях получаются приблизительно одинаковыми, но в приближении сильного конфигурационного взаимодействия изменение параметров интенсивности с изменением состава стекла происходит более плавно и предсказуемо. Это дает основание сделать вывод, что наиболее адекватным приближением для описания спектральных свойств стекол, активированных празеодимом, является приближение сильного конфигурационного взаимодействия (3).

Для определения погрешностей использовался алгоритм, разработанный автором и удобный с точки зрения компьютерного применения.

Суть предлагаемого алгоритма сводится к следующему:

а) минимизируя компьютерными методами сумму квадратов отклонения теоретических значений физических величин от экспериментальных, в первую очередь, определяются оптимальные значения параметров и среднеквадратичное отклонение ;

б) используя оптимальные параметры, на основе матричных или аналитических уравнений вычисляются оптимальные значения физических величин;

в) в дальнейших вычислениях все параметры кроме одного, для которого вычисляется погрешность, фиксируются. Выбранный параметр варьируется до тех пор пока среднеквадратичное отклонение вычисленных физических величин от оптимальных не станет равным .

Полученное отклонение выделенного параметра от его первоначального оптимального значения и есть погрешность.

(c) АСФ России, 2001