Изучение природы гигантских дефектов упаковки в монокристаллах кремния Новгородский государственный университет Научный руководитель: Данильчук Леонид Нестерович, д.ф.-м.н., проф. В теоретической части работы рассмотрена структура простых дефектов упаковки* типа вычитания, ограниченных частичными или почти винтовыми 30-градусными дислокациями Шокли с векторами Бюргерса или краевыми дислокациями Шокли, у которых вектор Бюргерса также лежит в плоскости дефектов упаковки или отрицательными краевыми дислокациями Франка с векторами Бюргерса .Рассмотрена структура простых дефектов упаковки типа внедрения, ограниченных частичными положительными краевыми дислокациями Франка. Проанализированы образование и структура барьеров Ломер-Коттрелла и Хирта, когда реагирующие частичные дислокации не параллельны результирующей вершинной дислокации:а) барьер Ломер-Коттрелла, образованный краевой вершинной дислокацией Томпсона и частичными 30-градусными дислокациями Шокли ;б) барьер Ломер-Коттрелла, образованный остроугольной краевой вершинной дислокацией и частичными краевыми дислокациями Шокли; в) барьер Хирта, образованный краевой вершинной дислокацией с тупым углом и частичными 30-градусными дислокациями Шокли; г) барьер Хирта, образованный вершинной дислокацией с тупым углом и вектором Бюргерса и частичными 30-градусными дислокациями Шокли.На основе критерия Франка рассмотрен энергетический выигрыш в ходе дислокационных реакций: а) , б) , в) .Таким образом, зарождение и рост дефектов с вершинной дислокацией Томпсона с вектором Бюргерса будет наиболее вероятным. Также наиболее вероятно возникновение барьеров Хирта, образованных краевой вершинной дислокацией с тупым углом и 30-градусными дислокациями Шокли, так как энергетический выигрыш в случае г) очень мал.В экспериментальной части работы исследовались бездислокационные монокристаллы кремния, выращенные по методу Чохральского в направлении [111], в которых на определенном этапе осуществлялся срыв бездислокационного роста и генерировались гигантские дефекты упаковки, проходящие по плоскостям {111} через весь монокристалл. Площадь некоторых дефектов упаковки составляла величину S =1-3 cм 2.Из слитка вырезались пластины толщиной 1,5-2 мм перпендикулярно осям [111] и [101], так чтобы оси частичных дислокаций и плоскости некоторых дефектов упаковки были наклонны и перпендикулярны поверхностям пластин. В последнем случае появлялась возможность применения “розеточной” методики идентификации частичных дислокаций и дефектов упаковки .Основным методом исследования дефектов упаковки был метод аномального прохождения рентгеновских лучей. Использовалось характеристическое CuKa -излучение и отражения {220} от плоскостей решетки, перпендикулярных поверхности пластин. Разрешение рентгеновских камер в эксперименте составляло 5? 7 мкм. Определение природы дефектов упаковки проводилось путем идентификации частичных дислокаций, ограничивающих дефект упаковки. Были получены рентгенотопографические изображения дефектов упаковки и частичных дислокаций, ограничивающих его. Исследована структура, кристаллография и природа гигантских дефектов упаковки в монокристаллах кремния.
* Под простым дефектом упаковки понимается дефект упаковки с одной дефектной прослойкой, лежащей в одной из плоскостей {111}. |
(c) АСФ России, 2001 |